电磁兼容术语
电磁兼容性-Electro Magnetic Compatibility (EMC)
设备或系统在其电磁环境中能正常工作且不对该环境中任何事物构成不能承受的电磁骚扰的能力。
EMI——电磁干扰,电磁骚扰引起的设备、传输通道或系统性能的下降。
EMS——(电磁)敏感性,在存在电磁骚扰的情况下,装置、设备或系统避免性能降低的能力。
系统间干扰(inter-system interference)
其他统产生的电磁骚扰对一个系统产生的电磁干扰。
系统内干扰 (intra -system interference)
系统中出现的由本系统内部产生的电磁骚扰引起的电磁干扰。
抗扰性(immunity)
设备或系统面临电磁骚扰不降低运行性能的能力。(敏感性高,抗扰度低,但对一个设备而言,敏感性电平与抗扰度电平是同一个数值)
电磁发射(electromagnetic emission)
从源到外发出电磁能量的现象。
电磁辐射(electromagnetic radiation)
电磁能量以电磁波辐射的形式发射到空间的现象 。
电磁兼容电平(electromagnetic compatibility level)
预期加在工作于指i定条件的装置的装置,设备或系统上的(规定的)zui大的电磁骚扰电平。
辐射骚扰场强
设备端口
电场天线
磁场天线
根据麦克斯韦方程,变化电场产生变化磁场,变化磁场产生变化电场。
设备内每个电路都可能是等效磁场天线,机壳和电缆都可能是等效电场天线的一部分。
辐射骚扰测量范围
30MHz~18GHz,测量电场(E)
1GHz以下,开阔场地或半电波暗室,半自由空间。
1GHz以上 全电波暗室,模拟自由空间。
9KHz ~30MHz,测量磁场( H )
EUT较小,放在大磁环天线(LLA)中,测量骚扰磁场的感应电流。
EUT较大,采用远天线法,用单小环在规定距离测量骚扰的磁场强度。
测量场所‐开阔场地测量场所‐半电波暗室辐射骚扰测量天线
辐射骚扰测量设备
9kHz‐30MHZ辐射骚扰测量
30‐1000MHz辐射骚扰测量
1‐18GHz辐射骚扰测量
30‐1000MHz辐射骚扰测量辐射骚扰场强计算
F (天线因子) = E/U
用dB值表示为F(dB) = E(dB) – U(dB) E(dB) = U(dB) + F(dB)
被测场强E(dB) = 测量接收机读数U(dB) + 天线系数F(dB) + 电缆损耗L(dB)
L2 (dB)= L1 (dB)+ 20lg(d1/d2)
式中L1和 L2分别为测试距离为d1 和d2时的辐射限值
待测物工作状态遵循原则
EUT应按设计要求在额定(标称)工作电压和负载条件(机械性能和电气性能)下 运行。应尽可能使用实际负载;
试验程序应确保ITE(设备或系统)中的各个组成部分能够运行。
电快速瞬变脉冲群抗扰度
标准依据
IEC61000 - 4 - 4
EN61000-4-4
GB/T17626.4
试验目的
评估通讯和电子设备的供电电源端口、信号和控制端口在受到重复的快速瞬变脉冲群干扰时的性能, 验证通讯和电子设备对来自操作暂态过程 (如开断感性负荷、继电器触头弹跳等) 中的各种类型瞬变扰动的抗扰性。
试验设备
瞬变脉冲群i发生器
耦合去耦网络
容性耦合钳
试验等级(严酷度等级)
试验原理
接50Ω负载时单个脉冲的波形电快速瞬变脉冲群图示试验的实施
对交/直流电源端口的试验一般采用耦合、去耦网络。 如不能使用耦合/去耦网络时 ,可以使用容性耦合夹。试验电压应该通过耦合/去耦网络施加到保护地上;
对I/O端口及通信端口的试验,采用容性耦合夹。
试验结果判定
对于情形a,判为合格。
对于情 形b、c、d,判为不合格。
工频磁场抗扰度
标准依据
IEC61000 - 4 - 8
EN61000-4-8
GB/T17626.8
试验目的
评价处于工频( 连续和短时) 磁场中的家用、商用和工业用电气和电子设备的性能,尤其适合于计算机监视器、电度表等一类对磁场敏感设备的磁场抗扰度试验。
试验设备
试验发生器
感应线圈
试验等级(严酷度等级)
试验示意图
试验的实施
设备应处于标准规定的磁场中,随后感应线圈应旋转90°,设备EUT菠萝再不同方向的试验磁场中。
对于大型立式设备,试验应以线圈zui短边的50%为步长,延EUT的侧面将线圈移动到不同的位置重复进行,使得试验的区域相互叠加 。
为了使EUT包络在不同的方向的试验磁场中,感应线圈应旋转90°,接着按相同的程序进行。
试验结果判定
对于情形a,判为合格。
对于情 形b、c、d,判为不合格
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