XRF矿石分析仪产品特点
1.小型化、、高速度、易操作,Na11-U92高灵敏度、高精度分析
2.可同时分析40种元素
3.采用多准直器多滤光片和扣背景技术
4. Peltier电制冷 FAST SDD硅漂移检测器提供出色的短期重复性和长期再现性以及出色的元素峰分辨率
5.超高记数数字多道电路设计,双真空抽速机构,真空度自动稳定系统
6.标配基本参数法软件,多任务,多窗口操作
7.薄膜滤光片技术,有效提高轻元素检出限
分辨率:1.2nm @15kv,2.2nm @1kv(非样品台偏压模式) 放大倍数:10X—1000000X,连续可调 加速电压:20v-30kv,连续可调 样品台移动范围:X=Y=120mm,Z=50mm 能谱探测器:SDD硅漂移电制冷探测器 能量分辨率:MnKa优于127eV 元素分析范围:Be4—Cf98。 [1] 主要功能编辑 播报采用ET二次电子探测器、In-Iens二次电子探测器、HDBSD背散射探测器和能谱探测器分别对信号进行检测、放大、成像,用于各种微观形貌及成分分析。岩石是矿物的集合体,是各种地质作用的产物,是构成地壳的物质基础。矿物是在各种地质作用中形成的天然单质或化合物,通常由像钙、镁、钠、铝、钡、铁、锌等多种元素组成。通过仪器测试可以得到所含元素及各个元素的含量。有部分矿石因需要提取的矿物量较低(ppm级---百万分之一,如:5-10ppm金矿),通过简单的测试无法准确判定含量的多少,轻便矿石分析仪也只能做半定量分析。这就需要高精度的分析手段---原子吸收光谱仪。原文链接:http://www.ybxx.org/caigou/5731.html,转载和复制请保留此链接。
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